石英晶振长时间性能测试结果
经过长时间的研究,我们可以提供长达5年多的的石英晶振延长老化测试结果，以深入了解石英晶体振荡器的长期漂移特性。将讨论结果以显示环境条件和电源开关周期的变化的影响。
对几种类型的石英晶振进行了很长时间的老化测量，包括AT和SC切割炉控制晶体振荡器（OCXO）以及温度补偿晶体振荡器（TCXO晶振）。虽然每个OCXO晶振都在生产中老化，但数据通常很多仅在满足老化率规范所需的时间段内收集。 TCXO很少老化，因为确定真正的老化性能需要很长的测试时间。通常无法研究长时间内大量振荡器的老化性能结果。
显示的许多测试结果都是振荡器，这些振荡器要么是生产订单超支，要么是不符合特定规格的单元，要么是在老化测试测量期间表现出异常行为。必须注意的是，用频率扰动显示的大量数据不是常态，而是代表不显示异常的振荡器的一小部分。然而，这些振荡器在较长时间内收集的数据表现出来
有趣的品质值得注意。事实上，许多振荡器故意留在老化系统专门用于研究老化过程，并且还提供了这些振荡器的数据。这些数据代表了真实世界的表现，因为它捕捉了日常和季节变化的周期性变化，以及由于电力故障和预定的系统维护而产生的回扫效应。重要的是要认识到贴片石英晶振的真实老化性能受这些因素的影响。
通过大约每2小时平均多达20个1秒栅极间隔的样本来收集每个振荡器的数据。所有振荡器的自动测试测量都是通过软件控制连续进行的，除非它们每天都装入老化系统或从老化系统卸载。在此过程中，数据收集将停止约3至5小时。中断也可能是在老化系统或电力故障时进行的日常维护工作的结果。在这种情况下，振荡器可以断电几个小时，数据收集可以停止长达几天。
由于图形软件的限制，通过删除每个其他数据点，所有呈现的数据都已减小。时间尺度已经标准化，2000年2月15日的最后一个数据点代表标记为“天数”的x轴上的第0天。因此，在此日期之前采集的所有VCXO晶振数据点均以负数表示从标准化日期起的天数。这是为了便于查找多个单元的数据集共有的事件，因此，将它们与单一行为隔离开来振荡器。
已从所示结果中移除杂散点以允许观察感兴趣的数据。杂散数据点主要是由于老化系统测试夹具插座和过度使用的RF开关磨损造成的。由于沿RF信号路径的偶然间歇接触，这导致错误的频率读数。
